納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱維修保養(yǎng)
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產(chǎn)品型號(hào)：T-TH-120
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價(jià)格：1
計(jì)量單位：臺(tái)
折 扣 率： 0
最后更新：2014-05-06
關(guān) 注 度：1766
生產(chǎn)企業(yè)：上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹 納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱
納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。
產(chǎn)品用途：太陽能電池模塊的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長期操作20年以上，規(guī)范要求太陽能電池需進(jìn)行：Thermal cycle test(溫度循環(huán)測(cè)試)、Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)、Damp Heat(濕熱測(cè)試)，以確認(rèn)太陽能電池能夠承受高溫高濕之后隨級(jí)的零下溫度影響，以及對(duì)于溫度重復(fù)變化時(shí)引起的疲勞和熱失效，另外確定太陽能電池能夠抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。
納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱
(IEC61215 , IEC61646 , UL1703，IEC62108 , IEEE1513，IEC61730 )
相關(guān)規(guī)范資料介紹：
硅晶太陽能:IEC61215、UL1703、GB9535
薄膜太陽能:IEC61646、GB18911
聚光太陽能:IEC62108、IEEE1513 humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)
納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：
產(chǎn)品型號(hào)：TH-容量
內(nèi)箱尺寸：按客戶要求外型尺寸：
納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗(yàn)箱性能參數(shù)：
▲測(cè)試環(huán)境條件下：環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下
▲測(cè)試方法：GB/T 5170.2-1996溫度試驗(yàn)設(shè)備/GB/T 5170.5-1996濕熱試驗(yàn)設(shè)備（僅濕熱型）
▲溫度范圍：負(fù)載-40℃→+85℃/（空載－70℃到150℃）
▲溫度波動(dòng)：±0.5℃
▲溫度分布精度：±2.0℃
▲濕度范圍：20%～98%R.H
▲濕度波動(dòng)：±2.5%R.H.
▲濕度分布精度：±4.0%.
柏毅主營產(chǎn)品：高低溫試驗(yàn)箱、小型高低溫試驗(yàn)箱、高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱、步入式試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、精密型高溫試驗(yàn)處、紫外老化試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱、循環(huán)腐蝕鹽霧試驗(yàn)箱、復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱等等
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| 會(huì)員級(jí)別：免費(fèi)會(huì)員 |
| 加入時(shí)間：2013-04-02
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