產(chǎn)品詳細(xì)介紹名稱:LED芯片顆粒視覺計數(shù)儀 簡介:該套儀器通過高速的圖像獲取及視覺識別處理來鑒別LED芯片的顆粒計數(shù)問題。用于LED芯片外延片面積測試,同樣適用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等拋光片外延片的面積測試。 性能參數(shù): 1.成像特性 鏡頭:4.5~10mm可變焦、F1.6、1/2”C接口的高保真光學(xué)鏡頭 CMOS規(guī)格:500萬像素,真彩 像素分辨率:0.045mm 對焦方式:手動對焦; 圖像觀察:具有圖像亮度、對比度、飽和度調(diào)整功能,調(diào)整值自動記憶保存,具有任意放大、縮小、局部觀察功能 2.檢測性能: 有效視野:30~150mm 軟件自動計數(shù)功能:可計數(shù)芯片二極管數(shù)量和紅、綠、藍(lán)等各色LED芯片顆?倲(shù),顯示和統(tǒng)計計數(shù)結(jié)果 適用芯片尺寸:4寸以下,透明/不透明LED芯片, 芯片顆粒規(guī)格≥5mil (或0.127mm)均可 計數(shù)速度:6~20萬LED芯片/秒 計數(shù)誤差≤0.1‰ 最大芯片計數(shù)量≥20萬pcs |