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                  Solar Cell Scan100系統(tǒng)組成
                  ■ 系統(tǒng)包括兩個150W氙燈,分別做為探測光源和偏置光源(選配件)。
                  ■ 采用300mm焦距的三光柵光譜儀做為分光系統(tǒng),保證良好的波長準確度和重復性,消除多級光譜的影響。
                  ■ 獨特的測試光路,可同時實現(xiàn)響應度與鏡面反射率的測試.對于漫反射樣品的反射率測試,則采用積分球方式來實現(xiàn),確保了測試的準確性.探測光光斑大小從3mm至10mm可調(diào),以適合不同尺寸的樣品測試。
                  ■ 樣品臺采用高精度二維平移機構,配有恒溫(或變溫)及真空吸附裝置,變溫范圍可達到5~40度。
                  ■ 系統(tǒng)可工作于斬波模式與連續(xù)模式,斬波模式采用鎖相放大器來實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集,連續(xù)模式采用高精度直流放大器來實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集。
                  ■ 采用二維高精度電控位移臺可對電池樣品進行Mapping掃描,
                  ■ 專業(yè)軟件,可實現(xiàn)一鍵自動完成響應度、反射率、QE及IPCE的測試。并可針對不同應用,自行設計測試流程。
                   
                  

              
          
      太陽能電池QE/IPCE(量子效率)測量系統(tǒng)
      產(chǎn)品型號:Solar Cell Scan100
      產(chǎn)品代碼:
      產(chǎn)品價格:
      最后更新:2012-12-14
      關 注 度:8172
      生產(chǎn)企業(yè):北京卓立漢光儀器有限公司
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      產(chǎn)品詳細介紹太陽能電池QE/IPCE(量子效率)測量系統(tǒng)

      Solar Cell Scan100
              太陽能電池(光伏材料)光譜響應測試、量子效率QE(Quantum Efficiency)測試、光電轉換效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測試等。廣義來說,就是測量光伏材料在不同波長光照條件下的光生電流、光導等。


          

      測試原理
                  
             用強度可調(diào)的偏置光照射太陽能電池,模擬其不同的工作狀態(tài),同時測量太陽能電池在不同波長的單色光照射下產(chǎn)生的短路電流,從而得到太陽能電池的絕對光譜響應與量子效率。
            




          



      Solar Cell Scan100特點
      ◆ 掃描光源波長輸出范圍:300-2000nm
      Solar Cell Scan100不僅適合常規(guī)太陽能電池的性能研究,而且適合各類新型近紅外太陽能電池材料性能的研究,真正實現(xiàn)了全光譜太陽能電池性能一體化測試。




          
              
                  ◆ 獨有的垂直光路設計 
                  
         獨有的垂直光路設計,被測樣品平面放置,不僅確保樣品的穩(wěn)定擺放,以保證測試的穩(wěn)定性,而且更適合染料敏化電池的測試。
                  ◆ JSC模擬計算功能
                  ◆ 時間穩(wěn)定度測試
                  ◆ 具有真空吸附及恒溫保持功能的樣品臺(選配件)

                  ◆ 測試光斑大小可調(diào),適用不同尺寸樣品的測試
                        
              
          

      ◆ 基于Windows的軟件:
          a) 自動控制掃描、樣品切換、光柵切換和數(shù)據(jù)采集
          b) 測量光譜響應度、反射率、內(nèi)量子效率、外量子效率、均勻度掃描等
          c) 數(shù)據(jù)導出及報表打印功能,數(shù)據(jù)導出格式支持Office、Origin、matlab等分析軟件

          
              
                  ◆ 多結以及多層膜電池的測試
                      通過改變偏置光光強,來飽和各結太陽能電池,分析待測結太陽能電池量子效率。
                   
                  ◆ 反射率測量
                      系統(tǒng)提供鏡面反射與漫反射測試選件,提供您完整的反射率測試分析手段。
              
              
                   
                  
                  
                  偏置光平行光路
                   
                   
                  
                  
                  積分球漫反射測量
              
          


          
              
                  ◆ 開放式偏置光路
                      偏置光路上預留光學元件的安裝位置,您可自由改變偏置光的條件,可用于對太陽能電池缺陷做先期的分析。
                  ◆ 標準樣品臺
                     適用于樣品尺寸相對固定的太陽能電池片的量測?缮墳樽儨鼗蚝銣貥悠放_。
                  ◆ 變溫樣品臺
                  
          在不同的溫度下測量太陽能電池電流的輸出,對太陽能電池在實際工作環(huán)境下是否存在缺陷做先期的分析。
                  ◆ 大面積太陽能電池片(最大156x156mm)的掃描檢測,二維自動平移系統(tǒng)可實現(xiàn)對電池樣品的各個位置做測量分析(選配件)
                  
         1.量子效率均勻性分析
                      2.反射率均勻性分析
                  
                      
                  標準與變溫樣品臺
                  
                      
                  電控掃描樣品臺


                  
              
          


          
              
                  ◆ 斬波與連續(xù)兩種測試模式,可實現(xiàn)常規(guī)光電池以及慢響應光電池的光譜響應測試
                  
          Solar Cell Scan 100 提供斬波模式QE/IPCE測量,可實現(xiàn)對多種太陽電池的測試(DSSC, Organic, Amorphous silicon,   Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs),也提供連續(xù)模式配合暗室測量光電轉換較慢的太陽能電池材料QE測量,如染料敏化與光化學太陽能電池材料量子效率測量。
                       
              
          


       Solar Cell Scan100 主要技術指標


          
              
                  
                     目


                  
                  
                  指標和說明


                  
              
              
                  
                  150W氙燈


                  
                  
                  光學穩(wěn)定度≦0.8%,可工作在斬波模式(適合常規(guī)單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽能電池)與連續(xù)模式(適合慢響應染料敏化電池,有機太陽能電池)


                  
              
              
                  
                  測試光斑尺寸


                  
                  
                  3mm~10mm


                  
              
              
                  
                  三光柵DSP掃描單色儀


                  
              
              
                  
                  波長范圍


                  
                  
                  300nm2000nm


                  
              
              
                  
                  波長準確度


                  
                  
                  a) ±0.3nm1200g/mm,300nm  b) ±0.6nm(600g/mm,500nm) 
                  c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm)


                  
              
              
                  
                  掃描間隔


                  
                  
                  最小可至0.1nm


                  
              
              
                  
                  輸出波長帶寬


                  
                  
                  <5 nm


                  
              
              
                  
                  多級光譜濾除裝置


                  
                  
                  根據(jù)波長自動切換,消除多級光譜的影響


                  
              
              
                  
                  光調(diào)制頻率


                  
                  
                  4 - 400 Hz 


                  
              
              
                  
                  標準樣品臺尺寸


                  
                  
                  164mmx164mm


                  
              
              
                  
                  標準硅探測器


                  
                  
                  含校正報告


                  
              
              
                  
                  偏置光源


                  
                  
                  光強可調(diào),最高可大于1個太陽常數(shù)(需選配)


                  
              
              
                  
                  樣品最大尺寸


                  
                  
                  156mm×156mm


                  
              
              
                  
                  數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度


                  
                  
                  a) 斬波模式:2nV;b) 連續(xù)模式:100nA


                  
              
              
                  
                  測量重復精度


                  
                  
                  對太陽光譜曲線積分重復性在±1%以內(nèi)


                  
              
              
                  
                  測試周期


                  
                  
                  單次掃描<1min,完整測試<5min (步長5nm)


                  
              
              
                  
                  反射率測量


                  
                  
                  鏡面反射 300-1100nm(需選配);漫反射 300-1600nm(需選配)


                  
              
              
                  
                  溫度控制


                  
                  
                  恒溫控制:25±1(需選配);變溫控制:5~40(需選配)


                  
              
              
                  
                  3D Mapping


                  
                  
                  156mm×156mm,100um分辨率


                  
              
              
                  
                  儀器尺寸


                  
                  
                  主機:842mm×770mm×575mm;控制柜:800mm×600mm×1300mm


                  
              
          



          
              
                  
                  Solar Cell Scan 100選購件列表


                  
              
              
                  
                    號


                  
                  
                    明


                  
              
              
                  
                  QE-A1 偏置光源附件


                  
                  
                  150W 高穩(wěn)定氙燈,平行光路含濾光片支架,光穩(wěn)定度0.8% 


                  
              
              
                  
                  QE-C1 鏡面反射率測試附件


                  
                  
                  Si探測器,波長范圍300-1100nm


                  
              
              
                  
                  QE-C2 漫反射率測試附件


                  
                  
                  含漫反射測量積分球,Si & InGaAs探測器,波長范圍300-1600nm


                  
              
              
                  
                  QE-D1 二維電動樣品臺


                  
                  
                  XY 二維電移臺及控制驅動


                  
              
              
                  
                  QE-F1 真空吸附樣品臺


                  
                  
                  156mm x156mm


                  
              
              
                  
                  QE-F2 恒溫樣品臺


                  
                  
                  25 ±1,156mm x156mm


                  
              
              
                  
                  QE-F3 變溫樣品臺


                  
                  
                  5-40 ,臺面尺寸30 mm x30mm


                  
              
          


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