ZEISS METROTOM 工業(yè)CT斷層掃描儀
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產品型號:ZEISS METROTOM
產品代碼:Z2
產品價格:0
產品編碼:Z002
計量單位:臺
折 扣 率: 0
最后更新:2018-08-17
關 注 度:5521
生產企業(yè):廣東越聯儀器有限公司
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產品詳細介紹斷層工業(yè)CT掃描儀 產品詳情 Product Information 基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機斷層掃描(CT) 利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統(tǒng),僅需一次X射線掃描,即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導軌及轉臺,滿足客戶對精度的高要求。
測量與檢驗整體部件 ZEISS METROTOM是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機測量時,此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準地進行多樣化特征檢測 利用ZEISS METROTOM計算機斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精準,且具可追溯性。和接觸式測量方法不同,ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時,時間顯著縮短。
直觀簡易的軟件操作 僅需通過短時間的ZEISS METROTOM OS軟件培訓課程,操作人員即可對零件進行掃描,透視零件的內部。利用ZEISS CALYPSO可評估CT數據,再利用ZEISS PiWeb即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。 |
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會員級別:免費會員 |
加入時間:2018-08-17
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