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計(jì)量單位:臺(tái)
折 扣 率: 0
最后更新:2017-10-12
關(guān) 注 度:4587
生產(chǎn)企業(yè):北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹ZEM-5熱電性能分析系統(tǒng)
技術(shù)特點(diǎn): 適用于研究開發(fā)各種熱電材料和薄膜材料,提高測量精度 溫度檢測采用C型熱電偶,最適合測量Si系列熱電材料(SiGe, MgSi等) *HT型 真正可測基板上的納米級(jí)薄膜(TF型) 最大可測10MΩ高電阻材料 標(biāo)準(zhǔn)搭載歐姆接觸自我診斷程序并輸出V/I圖表 基于日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JIS (熱電能JIS 電阻率JIS R 1650-2)
ZEM-5HT ZEM-5HR ZEM-5LT ZEM-5TF 特 點(diǎn) 高溫型 高電阻型 最大電阻:10MΩ 低中溫型 薄膜型 可測在基板上形成的熱電薄膜 溫度范圍 RT-1200℃ RT-800℃ -150℃-200℃ RT-500℃ 樣品尺寸 直徑或正方形:2 to 4 mm2 ; 長度3 ~ 15mm 成膜基板:寬2-4mm,厚0.4-12mm,長20mm 薄膜厚度:≥nm量級(jí) 薄膜樣品與基板要求絕緣 控溫精度 ±0.5K 測量精度 塞貝克系數(shù):<±7%; 電阻系數(shù):<±7% 測量原理 塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電; 電阻系數(shù):四端法 測量范圍 塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K; 電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm/10MΩ 分辨率 塞貝克系數(shù):10nV/K; 電阻系數(shù):10nOhm 氣 氛 減壓He |
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會(huì)員級(jí)別:免費(fèi)會(huì)員 |
加入時(shí)間:2016-06-03
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