靜態(tài)容量法碳酸鈣孔徑分析儀簡(jiǎn)介

孔徑分析儀由金埃譜科技與兵器系統(tǒng)合作研發(fā)，是粉體和纖維材料的孔徑分析測(cè)試儀器，采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理，產(chǎn)品設(shè)計(jì)遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),完全實(shí)現(xiàn)制造集成化,功能模塊化,操作自動(dòng)化和智能化。廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)，可用于催化劑材料孔徑分析，吸附劑材料孔徑分析，金屬氧化物孔徑分析等

金埃譜科技是國(guó)內(nèi)最早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性最好,并獲取上海計(jì)量院檢測(cè)證書,同時(shí)金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中唯一一家注冊(cè)資本超百萬(wàn)的生產(chǎn)企業(yè),讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無(wú)后顧之憂!

靜態(tài)容量法碳酸鈣孔徑分析儀性能參數(shù)

測(cè)試方法及功能:氮吸附真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測(cè)定,BJH總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),Langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,t－plot圖法外比表面積測(cè)定

測(cè)定范圍:0.01(㎡/g)--至無(wú)上限(比表面積);0.35nm-400nm(孔徑)

測(cè)量精度:重復(fù)性誤差小于1.5%

真空系統(tǒng):V-Sorb獨(dú)創(chuàng)的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑分析的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命.

液位控制:V-Sorb獨(dú)創(chuàng)的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差

控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命.

樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行2個(gè)樣品分析和2個(gè)樣品脫氣處理

壓力測(cè)量:采用壓力分段測(cè)量的進(jìn)口雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點(diǎn)下測(cè)試精度,0-1000 Torr(0-133Kpa),0-10 Torr (0-1.33Kpa)

壓力精度:進(jìn)口硅薄膜壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15％,優(yōu)于全量程的0.15％,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10%-15％)

分壓范圍:P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10－6－0.995

極限真空:4x10－2Pa (3x10－4Torr)

樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等

測(cè)試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)

數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強(qiáng).

數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表.

靜態(tài)容量法碳酸鈣孔徑分析儀適用范圍

1) 超微粉體，納米材料，顆粒及纖維狀材料比表面積分析測(cè)定；
2) 粉體材料生產(chǎn)及應(yīng)用企業(yè)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測(cè)；
3) 高校及科研單位材料研究測(cè)試，吸附科學(xué)及BET理論教學(xué)實(shí)驗(yàn)；
4) 電池材料，催化劑，添加劑，吸附劑，陶瓷燒結(jié)材料，磁性材料，儲(chǔ)能材料等相關(guān)性能測(cè)定；
5) 其它與材料表面性能相關(guān)的研究工作。===========================================================================================
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